美國伊諾斯Innov-X小型臺(tái)式XRD-XRF聯(lián)用儀 BTX PROFILER旋轉(zhuǎn)多樣品系統(tǒng)/單樣品系統(tǒng)
X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)
BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實(shí)驗(yàn)室，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計(jì)劃"好奇號(hào)"、"漫游者"使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶，兩大技術(shù)結(jié)合，可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息，可減少實(shí)驗(yàn)成本，節(jié)約時(shí)間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨(dú)立的X射線源和探測(cè)器，以保證快速獲取**上等的數(shù)據(jù)信息，XRD部分使用CCD二維面探測(cè)器，該探測(cè)器可以獲取整個(gè)德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息，XRF部分則采用SDD探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)更低的檢測(cè)下限和更高的靈敏度。
技術(shù)規(guī)格
XRD和XRF組合技術(shù)
①XRD微聚焦X射線管
②XRD X射線束
③XRD準(zhǔn)直器 ④XRD樣品
⑤CCD探測(cè)器 ⑥XRF X射線管
⑦濾光輪 ⑧XRF X射線束
⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測(cè)器
用于化合物分析的二維XRD
XRD采用透射衍射幾何技術(shù)，使用能量敏、
位敏的二維CCD面探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)了儀器的小
型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)
1、探測(cè)器收集整個(gè)德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)
臺(tái)式機(jī)只能收集德拜環(huán)一個(gè)截面的信息，增大
了數(shù)據(jù)
2、檢測(cè)快速，全譜顯示而非步進(jìn)掃描，普通樣
品 分鐘即可
無測(cè)角儀的XRD
使用樣品振動(dòng)系統(tǒng)(樣品在檢測(cè)過程中以6000hz的頻率隨機(jī)振動(dòng))，替代傳統(tǒng)臺(tái)式XRD測(cè)角儀可以實(shí)現(xiàn)以下功能：
1、樣品制備簡(jiǎn)單：樣品無需制片、壓片、刮片，只需得到<150um的顆粒即可； 2、實(shí)現(xiàn)樣品顆粒的全方位角度的檢測(cè)
3、完全消除檢測(cè)過程中晶體的擇優(yōu)取向； 4、增加了樣品檢測(cè)量
用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF
1、大功率射線管，配以超大面積SDD探測(cè)器；2、真正實(shí)現(xiàn)了在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行快速，準(zhǔn)確的檢測(cè)；3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量；4、全元素分析，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素；5、7個(gè)濾光片設(shè)置，可根據(jù)元素自動(dòng)選擇*優(yōu)濾光片；6、可選配氦氣裝置進(jìn)一步提高輕質(zhì)元素的檢測(cè)效果
XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域
BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù)，可對(duì)材料實(shí)現(xiàn)**的分析檢測(cè)，提供材料的元素組成、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。**應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。
礦物鑒定 XRD錄井鉆井 催化劑研發(fā)
選礦效率
礦石品位 能源勘探 腐蝕物鑒定與防腐
石油地質(zhì) **多晶型 材料成分及結(jié)構(gòu)
XRF錄井鉆井 真假藥識(shí)別 教育與科研
XRD-XRF聯(lián)用儀/配置
BTX PROFILER旋轉(zhuǎn)多樣品系統(tǒng)
1、儀器配置帶4個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)
2、可選配帶20個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)
3、可按程序設(shè)定對(duì)20個(gè)樣品依次檢測(cè)分析
4、適用于檢測(cè)樣品量較大、分析時(shí)間較長、無需操作人員在場(chǎng)的情形
5、可選配氦氣凈化裝置，有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測(cè)。